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    圖像粒度分析儀電子顯微系統

    圖像粒度分析儀電子顯微系統

    作者:admin   時間:2017-09-08
    公司新聞
      1965年推出世界第一臺商業化掃描電鏡;1985年推出世界上第一臺數字化掃描電鏡。EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。MA 10用于材料領域,LS 10用于生命科學領域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術級的物鏡設計,提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業界領先的X射線分析技術。革命性的Beamsleeve的設計,確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析
           目前我公司已經研發出最新款圖像粒度分析儀
    NKT-T180顯微顆粒圖像分析儀。   NKT-T180是國內最新一代靜態顆粒圖像分析設備,它采用最新的圖像采集系統與分析軟件,將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論完美結合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數以特征值和分布的形式呈現出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結果更穩定,是顆粒粒度測試及粒形分析的首選搭檔和得力助手。直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕,用戶可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性;
    完美拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數量更多,測試結果更具代表性;
    自動分割粘連顆粒 采用更先進的顆粒識別算法,對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割,顯著提高粘連顆粒分割準確率,減少人為參與,有效縮短圖像處理時間;
    自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能,使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況,為后續處理的精準度奠定基礎;
    自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集,集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數等功能的自動操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結果的生成等全部過程,操作簡便且結果可靠;
    自由切換粒徑單位 標尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現進一步處理;
    快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒,采用獨特的處理算法,對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結果,提高球形顆粒的分析效率。
         NKT-T180靜態顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、炸藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業。

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